拓普网
会员登录区 电子信箱 密码 注册会员 找回密码 信息修改 会员注销
出版社  分类目录  购物车  我的帐户  客户服务  在线留言 即时交谈 地理位置  
首页 | 每日快递 | 新书预告 | 精品图书 | 热销图书 | 订单查询 | 缺书登记 | 汇款招领 | 问题订单
搜索 
 
首页 > 电子技术 > 元件、组件和器件 > 元器件 > 电子元器件失效分析与典型案例

电子元器件失效分析与典型案例


电子元器件失效分析与典型案例

购买电子元器件失效分析与典型案例
作    者  孔学东 等主编
出 版 社  国防工业出版社
书    号  118-04619-1
责任编辑 开本 16
出版时间 2006年9月 字数 385千字
装    帧 平装 印张 0
带    盘 页数 260
定    价 ¥150.0    
       
普通会员 ¥123.0  
银牌会员 ¥120.0    
金牌会员 ¥117.0    
批量购书 电话: 010-51287918
 
内容提要 目录 相关图书 相关丛书 相关系列书 作者出版物 作者介绍 前言

电子元器件失效分析与典型案例 内容提要

    《电子元器件失效分析与典型案例》系统地介绍了电子元,器件失效分析技术及典型分析案例。《电子元器件失效分析与典型案例》分为基础篇和案例篇。基础篇阐述电子元器件失效分析的目的和意义、失效分析程序、失效分析技术以及失效分析主要仪器设备与工具;案例篇按照元器件门类分为九章,即集成电路、微波器件、混合集成电路、分立器件、阻容元件、继电器和连接器、电真空器件、板极电路和其它器件,共计138个失效分析典型案例,各章节突出介绍了该类器件的失效特点、主要失效模式及相关失效机理,提出了预防和控制使用失效发生的必要措施。 《电子元器件失效分析与典型案例》具有较强的实用性,可供失效分析专业工作者以及元器件和整机研制、生产羊位的工程技术人员使用,也可作为高等学校半导体器件专业的教学参考书。《电子元器件失效分析与典型案例》系统地介绍了电子元,器件失效分析技术及典型分析案例。《电子元器件失效分析与典型案例》分为基础篇和案例篇。基础篇阐述电子元器件失效分析的目的和意义、失效分析程序、失效分析技术以及失效分析主要仪器设备与工具;案例篇按照元器件门类分为九章,即集成电路、微波器件、混合集成电路、分立器件、阻容元件、继电器和连接器、电真空器件、板极电路和其它器件,共计138个失效分析典型案例,各章节突出介绍了该类器件的失效特点、主要失效模式及相关失效机理,提出了预防和控制使用失效发生的必要措施。《电子元器件失效分析与典型案例》具有较强的实用性,可供失效分析专业工作者以及元器件和整机研制、生产羊位的工程技术人员使用,也可作为高等学校半导体器件专业的教学参考书。

调换货原则

拓普网所售商品, 在满足调换货原则的前提下提供“自客户收到商品之日起7天内调换或换货”服务。

      → 调换货原则全文
      → 调换货流程全文

查看评论

发布评论

 

作者出版物

· 电子元器件失效分析与典型案例

→ 作者所有出版物
   新手指南    联系我们    付款方式     配送方法     会员制度    售后服务    拓普简介

Copyright © 2008 toopoo.com Inc. All Rights Reserved. 拓普公司 版权所有
地址: 北京市海淀区中关村大街11号中关村E世界A座1132A  邮政编码: 100080