微电子技术工程—材料、工艺与测试 |
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| 作 者 刘玉岭等 |
| 出 版 社 电子工业出版社 |
| 书 号 120-00021-7 |
| 责任编辑 |
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开本 |
16 |
| 出版时间 |
2004年10月 |
字数 |
1075.2千字 |
| 装 帧 |
平装 |
印张 |
0 |
| 带 盘 |
否 |
页数 |
646 |
| 定 价 |
¥68.0 |
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¥53.0
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电话:
010-51287918 |
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微电子技术工程—材料、工艺与测试 内容提要 |
《微电子技术工程—材料、工艺与测试》介绍了微电子器件衬底材料性能、加工工艺与测试技术。《微电子技术工程—材料、工艺与测试》共分15章,内容涉及硅单晶性质与加工技术、外延、氧化、扩散、制版、图形转移、刻蚀、多层布线、封装、键合、微机械加工及检测技术。 《微电子技术工程—材料、工艺与测试》可作为电子科学与技术学科高校教材,也可作为教师、研究生的专业参考书,同时对从事IC产业的企业和科研单位的专业技术人员也有重要的参考价值。 |
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微电子技术工程—材料、工艺与测试 目录 |
第0章 绪论 0.1 微电子技术是社会信息化的基础 0.2 集成电路技术新发展 0.2.1 集成电路的分类 0.2.2 集成电路的发展趋势及其特点 0.2.3 微电子技术制造发展趋势 0.3 微电子技术新领域 0.3.1 微电子机械系统 0.3.2 纳米电子技术 0.3.3 超导微电子技术 0.3.4 有机微电子技术 参考文献 第1章 硅单晶材料的基本性质
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| → 目录全文 |
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调换货原则 |
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