第1章 概论
1.1 可靠性术语和参数
1.2 电子元器件的可靠性表征
1.3 可告性试验的目的和分类
1.4 可可试验技术的发展
第2章 可靠性数学及应用
2.1 寿命分布
2.2 抽样检验
2.3 试验数据的处理方法
第3章 寿命试验
3.1 寿命与应力的关系
3.2 指数分布寿命试验
3.3 加速寿命试验
3.4 寿命试验中的一些技术问题
第4章 环境试验
4.1 概述
4.2 气候环境试验
4.3 机械环境试验
4.4 水浸渍试验
4.5 低气压试验
4.6 太阳辐射试验
4.7 电离辐射试验
4.8 盐雾腐蚀试验
4.9 霉菌试验
4.10 沙尘试验
4.11 地震试验
4.12 声震试验
4.13 运输试验
4.14 天然环境试验
4.15 综合环境试验
第5章 极限应力试验
5.1 极限应力试验的概念
5.2 进行极限应力试验的目的和作用
5.3 极限应力试验的电参数测试
5.4 极限应力试验的程序
5.5 极限应力试验方法
5.6 案例
第6章 电子元器件鉴定试验
6.1 鉴定试验和元器件质量等级
6.2 鉴定试验管理
6.3 鉴定试验程序
6.4 鉴定试验大纲
6.5 鉴定试验方法
6.6 试验示例
第7章 可靠性筛选试验
7.1 可靠性筛选试验的意义及其特点和分类
7.2 常用的可靠性筛选方法
7.3 精密老练筛选方法
7.4 线性判别筛选方法
7.5 可靠性物理筛选方法
7.6 可靠性筛选方案的设计
7.7 可靠性筛选方案的评价
7.8 元器件补充筛选（二次筛选）
第8章 可靠性增长试验
8.1 可靠性增长概念
8.2 可靠性增长原理
8.3 增长试验概述
8.4 试前准备
8.5 试验的实施
8.6 试验总结与评估
8.7 可靠性增长管理
8.8 可靠性增长的工程应用模式
第9章 元器件失效分析和失效机理
9.1 电子元器件失效分析技术
9.2 电子元器件主要失效机理与分析技术
9.3 电子元器件失效分析案例
9.4 结束语
第10章 破坏性物理分析（DPA）
10.1 一般要求
10.2 工作程序
10.3 DPA主要项目基本要求
10.4 DPA技术实际应用效果案例
第11章 使用状态中元器件换效预测技术
11.1 概述
11.2 使用状态中的元器件
11.3 使用状态下元器件失效过程模型
11.4 实用模型
11.5 元器件位置可靠性分析实例
11.6 组件失效预测
11.7 蒙特卡罗仿真
11.8 个体关键元器件的失效预测
11.9 现场失效分析实例
11.10 现场可靠性数据自动收集系统
11.11 结论
第12章 试验数据信息智能化管理系统（LIMS）
12.1 LIMS系统简介
12.2 LIMS的特点和功能
12.3 数据智能化采集处理系统
12.4 试验流程管理系统
12.5 试验信息管理系统 |
