SOC设计与测试

SOC设计与测试 内容提要

    《SOC设计与测试》分为设计和测试两部分，分别介绍SoC的设计方法和测试方法。在设计部分，介绍SoC设计会遇到的问题和与传统的ASIC设计流程的差别，并介绍逻辑核、存储器核及模拟核的设计方法和需要注意的问题，以及SoC系统的验证方法。在测试部分，介绍SoC中逻辑核、存储器核及模拟核的测试结构与测试方法，还介绍Iddq测试在SoC测试中的应用，最后介绍产品测试中需要注意的问题。
　　《SOC设计与测试》内容全面，可以作为教材，对ASIC设计工程师及系统设计工程师都有较高的参考价值。

SOC设计与测试 目录

第一部分 设计
第1章 绪论
1.1 当前SoC的结构4
1.2 SoC设计中的问题7
1.3 硬件软件协同设计11
1.3.1 协同设计流程12
1.3.2 协同设计工具15
1.4 核库、EDA工具和网址16
1.4.1 核库17
1.4.2 EDA工具和提供商18
1.4.3 网上站点22
参考文献23

第2章 逻辑核的设计方法
2.1 SoC设计流程25
2.2 设计复用的一般原则27
2.2.1 同步设计27
2.2.2 存储器和混合信号设计28
2.2.3 片上总线29
2.2.4 时钟分配29
2.2.5 清零/置位/复位信号31
2.2.6 物理设计31
2.2.7 可交付模型32
2.3 软核和固核的设计流程33
2.3.1 设计流程33
2.3.2 软核/固核的开发流程34
2.3.3 RTL设计规则35
2.3.4 软核/固核产品化35
2.4 硬核设计流程36
2.4.1 硬核设计中的特有问题36
2.4.2 硬核开发流程37
2.5 交付检查表与可交付的核38

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